加速環(huán)境試驗技術(shù)--環(huán)境可靠性測試條件
加速環(huán)境試驗技術(shù)
??? 傳統(tǒng)的環(huán)境試驗是基于真實環(huán)境模擬的試驗方法,稱為環(huán)境模擬試驗。這種試驗方法的特點是:模擬真實環(huán)境,加上設(shè)計裕度,確保試驗過關(guān)。其缺陷在于試驗的效率不高,并且試驗的資源耗費巨大。
加速環(huán)境試驗AET(AcceleratedEnvironmentalTesting)是一項新興的可靠性試驗技術(shù)。該技術(shù)突破了傳統(tǒng)可靠性試驗的技術(shù)思路,將激發(fā)的試驗機制引入到可靠性試驗,可以大大縮短試驗時間,提高試驗效率,降低試驗耗損。高低溫交變濕熱試驗箱?加速環(huán)境試驗技術(shù)領(lǐng)域的研究與應(yīng)用推廣對可靠性工程的發(fā)展具有重要的現(xiàn)實意義。
加速環(huán)境試驗
激發(fā)試驗(Stimulation)通過施加激發(fā)應(yīng)力、環(huán)境快速檢測來**產(chǎn)品的潛在缺陷。試驗所施加的應(yīng)力并不模擬真實環(huán)境,而以提高激發(fā)效率為目標。
加速環(huán)境試驗是一種激發(fā)試驗,它通過強化的應(yīng)力環(huán)境來進行可靠性試驗。加速環(huán)境試驗的加速水平通常用加速因子來表示。加速因子定義為設(shè)備在自然服役環(huán)境下的壽命與在加速環(huán)境下的壽命之比。
施加的應(yīng)力可以是溫度、振動、壓力和濕度(即所謂“四綜合”)及其它應(yīng)力,應(yīng)力的組合亦是有些場合更為有效的激發(fā)方式。高溫變率的溫度循環(huán)和寬帶隨機振動是公認*有效的激發(fā)應(yīng)力形式。加速環(huán)境試驗有2種基本類型:加速壽命試驗(AcceleratedLifeTesting)、可靠性強化試驗(ReliabilityEnhancementTesting)。
可靠性強化試驗(RET)用以暴露與產(chǎn)品設(shè)計有關(guān)的早期失效故障,高低溫交變濕熱試驗箱但同時,也用于確定產(chǎn)品在有效壽命期內(nèi)抗隨機故障的強度。加速壽命試驗的目的是找出產(chǎn)品是如何發(fā)生、何時發(fā)生、為何發(fā)生磨耗失效的。
下面分別對2種基本類型進行簡單闡述。
1、加速壽命試驗(ALT)
加速壽命試驗只對元器件、材料和工藝方法進行,用于確定元器件、材料及生產(chǎn)工藝的壽命。其目的不是暴露缺陷,而是識別及量化在使用壽命末期導致產(chǎn)品損耗的失效及其失效機理。有時產(chǎn)品的壽命很長,為了給出產(chǎn)品的壽命期,加速壽命試驗必須進行足夠長的時間。
加速壽命試驗是基于如下假設(shè):即受試品在短時間、高應(yīng)力作用下表現(xiàn)出的特性與產(chǎn)品在長時間、低應(yīng)力作用下表現(xiàn)出來的特性是一致的。高低溫交變濕熱試驗箱為了縮短試驗時間,采用加速應(yīng)力,即所謂高加速壽命試驗(HALT)。
加速壽命試驗提供了產(chǎn)品預(yù)期磨損機理的有價值數(shù)據(jù),這在當今的市場上是很關(guān)鍵的,因為越來越多的消費者對其購買的產(chǎn)品提出了使用壽命要求。估計使用壽命僅僅是加速壽命試驗的用處之一。它能使設(shè)計者和生產(chǎn)者對產(chǎn)品有更**的了解,識別出關(guān)鍵的元器件、材料和工藝,并根據(jù)需要進行改進及控制。另外試驗得出的數(shù)據(jù)使生產(chǎn)廠商和消費者對產(chǎn)品有充分的信心。
加速壽命試驗的對象是抽樣產(chǎn)品。
2、可靠性強化試驗(RET)
可靠性強化試驗有許多名稱和形式,如步進應(yīng)力試驗、應(yīng)力壽命試驗(STRIEF)、高加速壽命試驗(HALT)等。RET的目的是通過系統(tǒng)地施加逐漸增大的環(huán)境應(yīng)力和工作應(yīng)力,來激發(fā)故障和暴露設(shè)計中的薄弱環(huán)節(jié),從而評價產(chǎn)品設(shè)計的可靠性。因此,RET應(yīng)該在產(chǎn)品設(shè)計和發(fā)展周期中*初的階段實施,以便于修改設(shè)計。
國外可靠性的有關(guān)研究人員在80年代初就注意到由于設(shè)計潛在缺陷的殘留量較大,給可靠性的提高提供了可觀的空間,另外價格和研制周期問題也是當今市場競爭的焦點。研究證明,RET不失為解決這個問題的*好方法之一。它獲得的可靠性比傳統(tǒng)的方法高得多,更為重要的是,高低溫交變濕熱試驗箱它在短時間內(nèi)就可獲得早期可靠性,無須像傳統(tǒng)方法那樣需要長時間的可靠性增長(TAAF),從而降低了成本。